دستگاه طيف ‌سنج  تفرق اشعه ايکس

                        (X-Ray Diffraction Spectrometer )  

مدل : X’ Pert  PW 3040/60                 ساخت :   Philips Holland

طیف سنج تفرق اشعه ایکس ( XRD ) ، روشی قدرتمند است که برای تشخیص فازهای معدنی ، ساختمان بلوری مواد و سنجش ویژگی های ساختاری ( ترکیب فازی ، اندازه دانه ، فصل مشترک ها و صفحات کریستالی ) این فازها کاربرد دارد .

توانمندی های دستگاه :

 مطالعه ، بررسی و شناسایی سریع فازهای تشکیل دهنده مواد( عایق ، نیمرسانا و رسانا ) و نانو مواد به صورت جامد ، لایه نازک و پودری
— تعیین فازهای کریستالی موجود در فلزات ، مواد سرامیکی ، مینرالی ، زئولیت ها، سیمان ، مواد نیمرسانا و ابر رسانا ، رنگ های معدنی ، مواد شیمیایی و دارویی آلی و معدنی ( با غلظت بیشتر از  1% وزنی )
—  هر نمونه بلورين ، الگوي پراش منحصر بفردي دارد که در مقايسه آن با الگوهاي پراش استاندارد، نوع ترکيب شناسايي مي‌شود :

 

—

گستره زاویه قابل استفاده :   °134 ≥ Ο≤ 2θ
اساس کار دستگاه قانون براگ می باشد  (nλ = 2dsinθ)
1.5438367 = λ  ، طول موج Kα Cu

 

 یکی از نرم افزارهای پر کاربرد در ازمایشگاه xrd  نرم افزار !match   می باشد جهت  دسترسی به این نرم افزار و کتاب ان بر روی لینک ذیل کلیک نمایید

  لینک ترجمه  کتاب و نرم افزار match

ایمیل  واحد : XRD-CHEM@Par-e-tavous.com

 

 هاون سایشی ( Mortar Grinder )

 

 

•  سایش و آماده سازی نمونه های پودری تا ناحیه  10micron ± ≤
• مدل : RM 200                 ساخت : Retsch Netherlands

  • آخرین به روز رسانی در تاریخ دسامبر 30, 2017
( افراد آنلاین : 1 ) - ( بازدید امروز : 83 ) - ( بازدید کل : 152952 ) - (بازدید این ماه : 4708)
(ورودی گوگل : 0) - (زمان بارگزاری صفحه به ثانیه: 0.450)
کلیه حقوق این وب سایت متعلق است به موسسه تحقیقات و پژوهش پر طاووس - برنامه نویسی و توسعه dimax.ir